半導体の微細化技術の進歩に伴い問題となっているクロストークを動的に解析する手法を提案した．本手法はテストパターンを用いた動的クロストーク解析手法およびそれに起因するタイミングエラー検出手法から構成される．本手法を乗算器 5 種と 8 ビット CPU に適用し評価した．乗算器では回路規模に関わらず，隣接配線箇所のうち動的なクロストークが生じるのは 4 割程度であり，その動的なクロストークがタイミングエラーを生じさせる箇所は 1 割程度以下であった．また，CPU では，動的クロストークの割合は1％程度であり，タイミングエラーはなかった．